主要用于金(jin)屬(shu)材(cai)料、非金(jin)屬(shu)材(cai)料和(he)(he)納米材(cai)料等多種材(cai)料的電子(zi)顯(xian)微(wei)(wei)學(xue)研(yan)究,在高真空條件下對樣品進行(xing)直接(jie)的超高分辨顯(xian)微(wei)(wei)形貌觀察、對微(wei)(wei)區元素進行(xing)定(ding)性定(ding)量分析。可滿足汽車材(cai)料、生命(ming)科(ke)學(xue)和(he)(he)半導體等多種領(ling)域的檢(jian)測需求(qiu)。
主(zhu)要技術參數:
電子像分辨率≤0.6nm (15kV),放大倍率100萬倍,能譜附(fu)件分辨率Mn和(he)Ka優(you)于127eV,元素分析(xi)范(fan)圍 Be4~Cf98。